|   Suchergebnis   |       |       |       |      ©
Deutsch Englisch

______________

Speichern

Treffer filtern

Neue Suche

______________

Weitere Kataloge
und Datenbanken

Basisklassifikation

Historische Systematik
1501 - 1955

Lesesaal-
systematik

______________

Auskunft

Bibliothekskonto

Fernleihe

Anschaffungs-
vorschlag

______________

Datenschutz

Barrierefreiheit

Impressum
(Imprint)
1 - 2 von 2
      
* Ihre Aktion  Suchen (Schlagwörter GND (Phrase) (XSP)) scanning electron microscopy
 eingrenzen (Basisklassifikation (XBKL)) 33.03
Bücher 1.  Praxis der Rasterelektronenmikroskopie und Mikrobereichsanalyse
Schmidt, Peter Fritz. - Renningen-Malmsheim : expert-Verl., 1994
Bücher 2.  Kathodolumineszenz im Raster-Elektronenmikroskop : Grundlagen, Meßsysteme, Anwendungsbeispiele
Koschek, Georg. - Als Ms. gedr. - Düsseldorf : VDI-Verl., 1991
1 - 2 von 2
      
Wort   Typ   Anzahl
33.03 Basisklassifikation (XBKL) 281
scanning electron microscopy Schlagwörter GND (Phrase) (XSP) 52
 
 1 - 2 von 2