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	Ihre Aktion	Suchen (Schlagwörter GND (Phrase) (XSP)) x-ray microanalysis eingrenzen (Basisklassifikation (XBKL)) 33.05

Titel:	Quantitative electron-probe microanalysis / V. D. Scott; G. Love; S. J. B. Reed
VerfasserIn:	Scott, Victor D. ; Love, Glyn ; Reed, Stephen J.
Ausgabe:	2. ed.
Sprache/n:	Englisch
Ver�ffentlichungsangabe:	New York, NY [u.a.] : Ellis Horwood, 1995
Umfang:	XIV, 311 S. : Ill., graph. Darst.
Schriftenreihe:	Ellis Horwood series in physics and its applications
Anmerkung:	Literaturverz. S. 285 - 303
ISBN:	0-13-104050-2
Schlagw�rter:	Elektronenstrahlmikroanalyse Electron probe microanalysis ; Microchemistry ; Chemistry, Analytic -- Quantitative
Sachgebiete:	33.05 Experimentalphysik
Mehr zum Thema:	Klassifikation der Library of Congress: QD117.E42 Dewey Dezimal-Klassifikation: 545/.836 ; 543.0812 Regensburger Verbund-Klassifikation: VG 8970: V Chemie und Pharmazie / VG Analytische Chemie / Allgemeines Regensburger Verbund-Klassifikation: UQ 6000: U Physik / UQ 6000-UQ 6800 Mineralogie / Einf�hrungen, Gesamtdarstellungen Regensburger Verbund-Klassifikation: UH 6310: U Physik / UH Klassische Felder, Elektrizit�tslehre, Optik, Quantenoptik, Laser, Relativit�tstheorie / Sekund�relektronen-Rasterelektronenmikroskopie einschlie�lich Elektronenstrahlmikroanalyse insgesamt, Allgemeines
Mehr zum Titel:	Inhaltsverzeichnis

Lokale Sachgebiete:	Nat B 887; Elektronenstrahl-Mikroanalyse

Signatur:	1 A 216505
Standort:	Potsdamer Straße

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