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	Ihre Aktion	Suchen (Schlagwörter GND (Phrase) (XSP)) x-ray microscopy eingrenzen (Basisklassifikation (XBKL)) 33.05

Titel:	X-ray microscopy : proceedings of the sixth international conference, Berkeley, CA, 2 - 6 August 1999 / XRM 99, VI International Conference on X-Ray Microscopy. Ed.: Werner Meyer-Ilse ...
Sonst. Personen:	Meyer-Ilse, Werner [Hrsg.]
K�rperschaft/en:	XRM 6 1999 Berkeley, Calif.
Konferenz:	International Conference on X-Ray Microscopy ; 6 (Berkeley, Calif.) : 1999.08.02-06 XRM 99 ; 6 (Berkeley, Calif.) : 1999.08.02-06
Sprache/n:	Englisch
Ver�ffentlichungsangabe:	Melville, NJ : American Institute of Physics, 2000
Umfang:	XIX, 748 S : Ill., graph. Darst
Art des Inhalts:	Konferenzschrift; Konferenzschrift (1999, Berkeley, Calif.)
Schriftenreihe:	AIP conference proceedings / American Institute of Physics. - Melville, NY, 1970- ; ZDB-ID: 187069-5 ; 507
ISBN:	1-56396-926-2
Schlagw�rter:	*R�ntgenmikroskopie / Kongress
Sachgebiete:	33.05 Experimentalphysik 42.03 Methoden und Techniken der Biologie
Mehr zum Titel:	http://aip.scitation.org/toc/apc/507/1 [Abstracts] Inhaltsverzeichnis

Signatur:	1 A 411515
Standort:	Potsdamer Straße

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