Reflection electron microscopy and spectroscopy for surface analysis / Zhong Lin Wang

1. publ.

English

Cambridge [u.a.] : Cambridge Univ. Press, 1996

XIX, 436 S : Ill., graph. Darst

Includes bibliographical references and index

Online-Ausg.: Reflection Electron Microscopy and Spectroscopy for Surface Analysis. - Cambridge : Cambridge University Press, 1996. - Online-Ressource (1 online resource (460 p.))

0-521-48266-6

Literaturverz. S. 419 - 430

*Reflexionselektronenmikroskopie / RHEED / Oberflächenanalyse / Abbildung / Werkstoff

*Materials -- Microscopy ; Surfaces (Technology) -- Analysis ; Reflection electron microscopy ; Reflection electron microscopy

Library of Congress Classification: TA417.23

Dewey Decimal Classification: 620/.44 ; 620.44

Regensburger Verbund-Klassifikation: UH 6300: U Physik / UH Klassische Felder, Elektrizitätslehre, Optik, Quantenoptik, Laser, Relativitätstheorie / Transmissionselektronenmikroskopie insgesamt, Allgemeines

Regensburger Verbund-Klassifikation: WC 3100: W Biologie / WC Methoden / Elektronenmikroskopie

http://www.gbv.de/dms/goettingen/188441417.pdf [Table of contents] Kostenfrei zugänglich ohne Registrierung

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