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	Ihre Aktion	Suchen (Schlagwörter GND (Phrase) (XSP)) nahfeldoptische mikroskopie eingrenzen (Basisklassifikation (XBKL)) 42.03

Titel:	Near-field microscopy and near-field optics / Daniel Courjon
VerfasserIn:	Courjon, Daniel
Sprache/n:	Englisch
Veröffentlichungsangabe:	London : Imperial College Press, 2003
Umfang:	XXI, 317 Seiten : Ill., Illustrationen
ISBN:	1-86094-258-X
Mehr zum Titel:	Literatuverz. S. 297 - 317
Global Trade Item Number:	9781860942587
Schlagwörter:	Optische Nahfeldmikroskopie Near-field microscopy ; Optics
Sachgebiete:	33.18 Optik 33.68 Oberflächen Dünne Schichten Grenzflächen Physik 42.03 Methoden und Techniken der Biologie
Mehr zum Thema:	Klassifikation der Library of Congress: QH212.N43 Dewey Dezimal-Klassifikation: 502.82 Regensburger Verbund-Klassifikation: UH 6310: U Physik / UH Klassische Felder, Elektrizitätslehre, Optik, Quantenoptik, Laser, Relativitätstheorie / Sekundärelektronen-Rasterelektronenmikroskopie einschließlich Elektronenstrahlmikroanalyse insgesamt, Allgemeines Regensburger Verbund-Klassifikation: UH 6700: U Physik / UH Klassische Felder, Elektrizitätslehre, Optik, Quantenoptik, Laser, Relativitätstheorie / Instrumentelle Optik und Physik optischer Instrumente insgesamt, Allgemeines Regensburger Verbund-Klassifikation: UH 6300: U Physik / UH Klassische Felder, Elektrizitätslehre, Optik, Quantenoptik, Laser, Relativitätstheorie / Transmissionselektronenmikroskopie insgesamt, Allgemeines
Mehr zum Titel:	Inhaltsverzeichnis

Signatur:	1 A 507861
Standort:	Potsdamer Straße





Literaturverwaltung:	BIBTEX - ENDNOTE - RIS

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