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Bücher 1.  Microscopy of semiconducting materials 1997 : proceedings of the Royal Microscopical Society Conference held at Oxford University, 7 - 10 April 1997
Cullis, Anthony G.. - Bristol [u.a.] : Inst. of Physics Publ., 1997
Bücher 2.  Surface analysis with STM and AFM : experimental and theoretical aspects of image analysis
Magonov, Sergei N.. - Weinheim [u.a.] : VCH, 1996
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Wort   Typ   Anzahl
33.18 Basisklassifikation (XBKL) ≈2435
oberflächenanalyse Schlagwörter GND (Phrase) (XSP) 56
 
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