Scanning probe microscopy and spectroscopy : theory, techniques, and applications / ed. by Dawn A. Bonnell

2. ed.

Englisch

New York ; Weinheim [u.a.] : Wiley-VCH, 2001

XIV,, 493 S. : Ill., graph. Darst.

Rev. ed. of: Scanning tunneling microscopy and spectroscopy. c1993

Früher u.d.T.: Scanning tunneling microscopy and spectroscopy

978-0-471-24824-8

0-471-24824-X (cloth : alk. paper)

9780471248248

*Rastersondenmikroskopie

*Rastertunnelmikroskopie

*Scanning probe microscopy ; Tunneling spectroscopy ; Scanning probe microscopy ; Tunneling spectroscopy

Klassifikation der Library of Congress: QH212.S33

Dewey Dezimal-Klassifikation: 502.825 ; 502/.8/25

Regensburger Verbund-Klassifikation: WC 2900: W Biologie / WC Methoden / Mikroskopie und mikroskopische Techniken allgemein

Regensburger Verbund-Klassifikation: UH 6310: U Physik / UH Klassische Felder, Elektrizitätslehre, Optik, Quantenoptik, Laser, Relativitätstheorie / Sekundärelektronen-Rasterelektronenmikroskopie einschließlich Elektronenstrahlmikroanalyse insgesamt, Allgemeines

http://www.loc.gov/catdir/description/wiley035/00036821.html [Publisher description]

http://www.loc.gov/catdir/toc/onix06/00036821.html [Table of Contents]

http://www.gbv.de/dms/ilmenau/toc/312652259.PDF [Inhaltsverzeichnis] Kostenfrei zugänglich ohne Registrierung

http://swbplus.bsz-bw.de/bsz08987577xcov.htm [Cover]

Potsdamer Straße

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