Deutsch Englisch

______________

Speichern

Treffer filtern

Neue Suche

______________

Weitere Kataloge
und Datenbanken

Basisklassifikation

Historische Systematik
1501 - 1955

Lesesaal-
systematik

______________

Auskunft

Bibliothekskonto

Fernleihe

Anschaffungs-
vorschlag

______________

Datenschutz

Barrierefreiheit

Impressum
(Imprint)

1 - 2 von 2
      
* Ihre Aktion  Suchen (Schlagwörter GND (Phrase) (XSP)) x射线衍射学
 eingrenzen (Basisklassifikation (XBKL)) 51.30
E-Books/Online Ressourcen 1.  Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials
Fultz, Brent. - Third Edition. - Berlin, Heidelberg : Springer Berlin Heidelberg, 2008
Bücher 2.  High resolution X-ray diffractometry and topography
Bowen, David Keith *1940-*. - London [u.a.] : Taylor & Francis, 1998
1 - 2 von 2
      
Wort   Typ   Anzahl
x射线衍射学 Schlagwörter GND (Phrase) (XSP) 22
51.30 Basisklassifikation (XBKL) 782
 
1 - 2 von 2