Atomic Force Microscopy, Scanning Nearfield Optical Microscopy and Nanoscratching : Application to Rough and Natural Surfaces / by Gerd Kaupp

Englisch

Berlin, Heidelberg : Springer Berlin Heidelberg, 2006

Online-Ressource (XII, 292 p. 239 illus, digital)

Buchausg. u.d.T.: Atomic force microscopy, scanning nearfield optical microscopy and nanoscratching. - Berlin : Springer, 2006. - XII, 292 S.

978-3-540-28472-7

Weitere Ausgaben: 978-3-540-28405-5 (Druckausgabe)

DOI: 10.1007/978-3-540-28472-7

*Oberfläche / Rasterkraftmikroskopie

*Optische Nahfeldmikroskopie

*Härteeindruck / Nanometerbereich

*Ritzhärte / Härteprüfung / Nanometerbereich

*Chemistry, Physical organic ; Biochemistry ; Life sciences ; Physical optics ; Nanotechnology ; Chemistry

Dewey Dezimal-Klassifikation: 530

Regensburger Verbund-Klassifikation: UH 6300: U Physik / UH Klassische Felder, Elektrizitätslehre, Optik, Quantenoptik, Laser, Relativitätstheorie / Transmissionselektronenmikroskopie insgesamt, Allgemeines

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