High-resolution X-ray scattering : from thin films and multilayers / Václav Holý; Ullrich Pietsch; Tilo Baumbach

Holý, Václav *1953-* ; Pietsch, Ullrich *1952-* ; Baumbach, Tilo

Englisch

Berlin ; Heidelberg [u.a.] : Springer, 1999

XI, 256 S. : graph. Darst. ; 25 cm

3-540-62029-X : DM 249.00 (Gb.)

Literaturangaben

*Dünne Schicht / Röntgenstreuung

*Mehrschichtsystem / Röntgenstreuung

*Thin films -- Optical properties ; Thin films, Multilayered -- Optical properties ; X-rays -- Scattering ; X-rays -- Diffraction

Klassifikation der Library of Congress: QC1 ; QC176.84.O7

Dewey Dezimal-Klassifikation: 539 s ; 530.4/175 ; 530.4175 ; s ; 539 ; 530.4/175

Regensburger Verbund-Klassifikation: UD 9310: U Physik / UD Kongresse, Sommerschulen, geschlossen aufgestellte Serien / Springer Tracts in modern physics

Regensburger Verbund-Klassifikation: UP 7500: U Physik / UP Festkörperphysik / Allgemeines

http://media.obvsg.at/AC02491226-1001 [Inhaltsverzeichnis]

Potsdamer Straße

BIBTEX - ENDNOTE - RIS