Atomic resolution microscopy of surfaces and interfaces : symposium held December 3 - 5, 1996, Boston, Massachusetts, U.S.A / ed. David J. Smith

Symposium ; (Boston) : 1996.12.03-05

Englisch

Pittsburgh, Pa. : Materials Research Society, c1997

IX, 282 S : Ill ; 24 cm

Konferenzschrift (1996, Boston, Mass.); Konferenzschrift

Includes bibliographical references and indexes

1-55899-370-3

*Elektronenmikroskopie / Rastertunnelmikroskopie

*Materials -- Microscopy -- Congresses ; Atom-probe field ion microscopy -- Congresses

Klassifikation der Library of Congress: TA417.23 ; TA417.23.A86 1997

Dewey Dezimal-Klassifikation: 620.1/1299

Regensburger Verbund-Klassifikation: UH 6300: U Physik / UH Klassische Felder, Elektrizitätslehre, Optik, Quantenoptik, Laser, Relativitätstheorie / Transmissionselektronenmikroskopie insgesamt, Allgemeines

Potsdamer Straße

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